DRK8090 Profiler otticu
Descrizione breve:
Per via di l'alta precisione di misura, è cù una caratteristica di misura tridimensionale senza cuntattu, è l'usu di u cuntrollu di l'urdinatore è di l'analisi rapida, calculà i risultati di a misura, l'instrumentu hè adattatu per tutti i livelli più morbidi, unità di ricerca di misura, industria minera di camera di misura, magazzinu di precisione, ma ancu per l'unioni di ricerca più efficaci.I paràmetri tecnichi principali.Intervallu di misurazione di a prufundità di a microstruttura di superfici irregolari.Quandu una superficia continua, ùn ci hè più di l'altitudine ...
A causa di l'alta precisione di misura, è cù una caratteristica tridimensionale
misurazione senza cuntattu, è l'usu di cuntrollu di computer è analisi rapida,
calculà i risultati di a misura, l'instrumentu hè adattatu per tutti i livelli più morbidi,
unità di ricerca di misurazione di camera di misura industria minera, atelier di macchina di precisione,
ma ancu per istituzioni di unità di apprendimentu superiore è di ricerca scientifica.
I paràmetri tecnichi principali.
Intervallu di misurazione di a prufundità di a microstruttura di superfici irregolari.
Quandu una superficia continua, ùn ci hè micca più grande di l'altezza mutante
1/4 di lunghezza d'onda trà dui pixel adiacenti: 1000-1 nm
Ipermutazione adiacente chì cuntene più di 1/4 di lunghezza d'onda trà dui pixel:
130-1 nm
Ripetibilità di misurazione:
