DRK8090 Profiler optic
Scurta descriere:
Datorită preciziei înalte de măsurare și cu o caracteristică de măsurare tridimensională fără contact și utilizării controlului computerului și a analizei rapide, calculați rezultatele măsurătorilor, instrumentul este potrivit pentru toate nivelurile, cele mai moale, unități de cercetare de măsurare pentru industria minieră, atelier de mașini de precizie și cercetare științifică.Parametrii tehnici principali.Interval de măsurare a adâncimii microstructurii suprafeței neuniforme.Când este o suprafață continuă, nu există mai mare decât înălțimea...
Datorită preciziei înalte de măsurare și cu o caracteristică tridimensională
măsurarea fără contact și utilizarea controlului computerului și a analizei rapide,
calculați rezultatele măsurătorilor, instrumentul este potrivit pentru toate nivelurile cele mai moale,
unitate de cercetare de măsurare a camerei de măsurare industria minieră, atelier de mașini de precizie,
dar și pentru instituțiile unităților superioare de învățare și cercetare științifică.
Parametrii tehnici principali.
Interval de măsurare a adâncimii microstructurii suprafeței neuniforme.
Când este o suprafață continuă, nu există mai mare decât înălțimea mutantă
1/4-lungime de undă între doi pixeli adiacenți: 1000-1 nm
Hipermutația adiacentă care conține o lungime de undă mai mare de 1/4 între doi pixeli:
130-1nm
Repetabilitate a măsurătorilor:
