DRK8090 Profiler optyczny
Krótki opis:
Ze względu na dużą precyzję pomiaru oraz charakterystykę trójwymiarowego pomiaru bezkontaktowego, a także wykorzystanie sterowania komputerowego i szybkiej analizy, obliczania wyników pomiarów, przyrząd jest odpowiedni dla każdego poziomu najmiększego, jednostki badawczej pomiarowej przemysłu górniczego, precyzyjnego warsztatu maszynowego, ale także dla instytucji szkolnictwa wyższego i jednostek naukowo-badawczych.Główne parametry techniczne.Zakres pomiaru głębokości mikrostruktury nierównej powierzchni.Kiedy na ciągłej powierzchni, wysokość nie jest większa niż...
Ze względu na dużą precyzję pomiaru oraz charakterystyczną trójwymiarowość
pomiar bezkontaktowy oraz wykorzystanie sterowania komputerowego i szybkiej analizy,
obliczyć wyniki pomiarów, przyrząd będzie odpowiedni dla wszystkich poziomów najmiększych,
pomiarbadaniajednostka pomiarowakomora górniczaprzemysł,precyzyjny warsztat maszynowy,
ale także dla instytucji szkolnictwa wyższego i jednostek naukowo-badawczych.
Główne parametry techniczne.
Zakres pomiaru głębokości mikrostruktury nierównej powierzchni.
Gdy na powierzchni ciągłej, nie ma większego mutanta wysokości
1/4 długości fali pomiędzy sąsiadującymi dwoma pikselami: 1000-1 nm
Sąsiednia hiperpermutacja zawierająca długość fali większą niż 1/4 pomiędzy dwoma pikselami:
130-1 nm
Powtarzalność pomiaru:
