DRK8090 ოპტიკური პროფილერი
Მოკლე აღწერა:
გაზომვის მაღალი სიზუსტის და სამგანზომილებიანი არაკონტაქტური გაზომვის მახასიათებლის გამო, და კომპიუტერული კონტროლის ტრაპიდაანალიზის გამოყენება, გაზომვის შედეგების გამოთვლა, ინსტრუმენტი შესაფერისია ყველა რბილისთვის, გაზომვის ძიების ერთეული, საზომი კამერის წინასწარი მოძიება და სამეცნიერო კვლევითი ერთეულები.ძირითადი ტექნიკური პარამეტრები.არათანაბარი ზედაპირის მიკროსტრუქტურის სიღრმის გაზომვის დიაპაზონი.როდესაც უწყვეტი ზედაპირი, არ არის ზე მეტი...
მაღალი გაზომვის სიზუსტის გამო და სამგანზომილებიანი მახასიათებლით
არაკონტაქტური გაზომვა და კომპიუტერული კონტროლის ტრაპიდაანალიზის გამოყენება,
გაზომვის შედეგების გამოთვლა, ინსტრუმენტი შესაფერისია ყველა ყველაზე რბილი,
საზომი კვლევის ერთეული საზომი პალატის სამთო ინდუსტრიაში, ზუსტი მანქანების მაღაზია,
არამედ უმაღლესი სწავლისა და სამეცნიერო კვლევითი ერთეულების ინსტიტუტებისთვის.
ძირითადი ტექნიკური პარამეტრები.
არათანაბარი ზედაპირის მიკროსტრუქტურის სიღრმის გაზომვის დიაპაზონი.
როდესაც უწყვეტი ზედაპირი, არ არის სიმაღლეზე მეტი მუტანტი
1/4 ტალღის სიგრძე მეზობელ ორ პიქსელს შორის: 1000-1 ნმ
მიმდებარე ჰიპერმუტაცია, რომელიც შეიცავს 1/4 ტალღის სიგრძეზე მეტს ორ პიქსელს შორის:
130-1ნმ
გაზომვის განმეორებადობა:
