DRK8090 Οπτικό προφίλτρο
Σύντομη περιγραφή:
Λόγω της υψηλής ακρίβειας μέτρησης,και με χαρακτηριστική τρισδιάστατη μέτρηση χωρίς επαφή,και τη χρήση της ανάλυσης ραδιενεργών ελέγχων υπολογιστή, τον υπολογισμό των αποτελεσμάτων των μετρήσεων,το όργανο είναι κατάλληλο για όλα τα πιο μαλακά, η μονάδα αναζήτησης μέτρησης για τον θάλαμο μέτρησης της προκαταρκτικής εξέτασης, αλλά επιστημονικές ερευνητικές μονάδες.Οι κύριες τεχνικές παράμετροι.Εύρος μέτρησης βάθους ανομοιόμορφης επιφάνειας μικροδομής.Όταν μια συνεχής επιφάνεια, δεν υπάρχει μεγαλύτερη από το...
Λόγω της υψηλής ακρίβειας μέτρησης, και με ένα χαρακτηριστικό τρισδιάστατο
η μέτρηση χωρίς επαφή και η χρήση της ανάλυσης ραδιενεργού ελέγχου με υπολογιστή,
υπολογισμός των αποτελεσμάτων των μετρήσεων,το όργανο είναι κατάλληλο για όλα τα πιο μαλακά,
μονάδα μέτρησης έρευνας του θαλάμου μέτρησης στη βιομηχανία ορυχείων, μηχανουργείο ακριβείας,
αλλά και για ιδρύματα τριτοβάθμιας μάθησης και επιστημονικές ερευνητικές μονάδες.
Οι κύριες τεχνικές παράμετροι.
Εύρος μέτρησης βάθους ανομοιόμορφης επιφάνειας μικροδομής.
Όταν μια συνεχής επιφάνεια, δεν είναι μεγαλύτερη από το ύψος μεταλλαγμένο
1/4-μήκος κύματος μεταξύ παρακείμενων δύο εικονοστοιχείων: 1000-1 nm
Παρακείμενη υπερμετάλλαξη που περιέχει μεγαλύτερο από 1/4 μήκος κύματος μεταξύ δύο εικονοστοιχείων:
130-1 nm
Επαναληψιμότητα μέτρησης:
