DRK8090 Оптичний профайлер
Короткий опис:
Завдяки високій точності вимірювання та характерному тривимірному безконтактному вимірюванню та використанню комп’ютерного контролю та швидкого аналізу, обчисленню результатів вимірювання, прилад підходить для всіх рівнів найм’якшого, вимірювального дослідницького підрозділу вимірювальної камери гірничої промисловості, цеху точного верстатування, а також для вищих навчальних закладів та науково-дослідні підрозділи.Основні технічні параметри.Діапазон вимірювання глибини мікроструктури нерівної поверхні.Коли на безперервній поверхні немає більше, ніж висота...
Завдяки високій точності вимірювання та з характерним тривимірним
безконтактне вимірювання та використання комп'ютерного контролю та швидкого аналізу,
обчислитирезультати вимірювань,прилад підходить для всіх рівнів найм'якшого,
вимірювання дослідницький підрозділ вимірювальної камери гірнича промисловість, цех прецизійних машин,
але також для вищих навчальних закладів і науково-дослідних підрозділів.
Основні технічні параметри.
Діапазон вимірювання глибини мікроструктури нерівної поверхні.
Коли на безперервній поверхні немає мутанта, більшого за висоту
1/4 довжини хвилі між двома сусідніми пікселями: 1000-1 нм
Сусідна гіпермутація, що містить понад 1/4 довжини хвилі між двома пікселями:
130-1 нм
Повторюваність вимірювань:
