Profiler optik DRK8090
Deskripsi Singkat:
Karena presisi pengukuran yang tinggi, dan dengan karakteristik pengukuran tiga dimensi non-kontak, serta penggunaan kontrol komputer dan analisis yang cepat, menghitung hasil pengukuran, instrumen ini cocok untuk semua level paling lembut, unit penelitian pengukuran industri pertambangan ruang pengukuran, bengkel mesin presisi, tetapi juga untuk lembaga pendidikan tinggi dan unit penelitian ilmiah.Parameter teknis utama.Rentang pengukuran kedalaman struktur mikro permukaan tidak rata.Ketika berada di permukaan yang kontinyu, tidak ada yang lebih besar dari ...
Karena ketelitian pengukuran yang tinggi, dan dengan ciri khas tiga dimensi
pengukuran non-kontak, dan penggunaan kontrol komputer dan analisis cepat,
menghitung hasil pengukuran, instrumen ini cocok untuk semua level paling lembut,
unit penelitian pengukuran, industri pertambangan ruang pengukuran, bengkel mesin presisi,
tetapi juga bagi lembaga pendidikan tinggi dan unit penelitian ilmiah.
Parameter teknis utama.
Rentang pengukuran kedalaman struktur mikro permukaan tidak rata.
Ketika berada di permukaan kontinu, tidak ada mutan yang lebih besar dari ketinggiannya
1/4 panjang gelombang antara dua piksel yang berdekatan: 1000-1nm
Hipermutasi berdekatan yang mengandung lebih dari 1/4 panjang gelombang antara dua piksel:
130-1nm
Pengulangan pengukuran:
