DRK8090 Optical profiler
Katrangan singkat:
Amarga presisi pangukuran sing dhuwur, lan kanthi karakteristik pangukuran non-kontak telu dimensi, lan panggunaan kontrol komputer lan analisispid, ngitung asil pangukuran, instrumen kasebut cocog kanggo kabeh tingkat paling alus, unit riset pangukuran ruang pangukuran industri pertambangan, mesin presisi, lan unit riset ilmiah dhuwur.Parameter teknis utama.Range pengukuran kedalaman mikrostruktur permukaan sing ora rata.Nalika lumahing sing terus-terusan, ora ana sing nggawe ...
Amarga presisi pangukuran dhuwur, lan kanthi karakteristik telung dimensi
non-kontak, lan nggunakake kontrol komputer lan analisis ndrapid,
ngitung asil pangukuran, instrumen cocok kanggo kabeh tingkat paling alus,
unit riset pengukuran ruang pengukuran industri pertambangan, mesin presisi,
nanging uga kanggo institusi sinau lan riset ilmiah.
Parameter teknis utama.
Rentang pengukuran kedalaman mikrostruktur permukaan sing ora rata.
Nalika lumahing terus-terusan, ora ana mutan sing luwih gedhe
1/4-panjang gelombang antarane rong rong piksel: 1000-1nm
Hipermutasi jejer sing ngemot luwih saka 1/4 dawa gelombang antarane rong piksel:
130-1nm
Measurementrepeatability:
