DRK8090 Optischer Profiler
Kurze Beschreibung:
Aufgrund der hohen Messgenauigkeit und der charakteristischen dreidimensionalen berührungslosen Messung sowie der Verwendung von Computersteuerung und schneller Analyse zur Berechnung der Messergebnisse eignet sich das Instrument für alle Ebenen, Messforschungseinheiten, Messkammern, Bergbauindustrie, Präzisionsmaschinenwerkstätten, aber auch für Hochschulen und wissenschaftliche Forschungseinheiten.Die wichtigsten technischen Parameter.Unebene Oberflächen-Mikrostruktur-Tiefenmessbereich.Auf einer durchgehenden Oberfläche gibt es nicht mehr als die Höhe...
Aufgrund der hohen Messgenauigkeit und der charakteristischen Dreidimensionalität
berührungslose Messung und die Verwendung von Computersteuerung und Schnellanalyse,
Berechnen Sie die Messergebnisse. Das Instrument ist für alle Ebenen geeignet.
Messung, Forschungseinheit, Messkammer, Bergbauindustrie, Präzisionsmaschinenwerkstatt,
sondern auch für Hochschulen und wissenschaftliche Forschungseinheiten.
Die wichtigsten technischen Parameter.
Unebene Oberflächen-Mikrostruktur-Tiefenmessbereich.
Auf einer kontinuierlichen Oberfläche gibt es keinen Mutanten, der größer als die Höhe ist
1/4-Wellenlänge zwischen benachbarten zwei Pixeln: 1000-1 nm
Benachbarte Hypermutation mit mehr als 1/4 Wellenlänge zwischen zwei Pixeln:
130-1 nm
Wiederholbarkeit der Messung:
